原子吸收法的選擇性高，干擾較少且易于克服，由于原子的吸收線比發射線的數目少得多，這樣譜線重疊的幾率小得多。而且空心陰極燈一般并不發射那些鄰近波長的輻射線，因此其它輻射線干擾較小。

原子吸收具有較高的靈敏度，在原子吸收法的實驗條件下，原子蒸氣中基態原于數比激發態原子數多得多，所以測定的是大部分原子。.

原子吸收法比發射法具有更佳的信噪比，由于激發態原子數的溫度系數顯著大于基態原子。

 

                              

 

如何干擾及其抑制？

原子吸收光譜法的主要干擾有物理干擾、化學干擾和光譜干擾三種類型。

一、 物理干擾
物理干擾又稱基體效應，是指試液與標準溶液物理性質有差異而產生的干擾。如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化，影響樣品的霧化和噴入火焰的速度，引起原子吸收強度的變化從而引起的干擾。

消除辦法:配制與被測試樣組成相近的標準溶液或采用標準加入法。若試樣溶液的濃度高，還可采用稀釋法。

二、化學干擾

化學干擾是由于被測元素原子與共存組份發生化學反應生成穩定的化合物，影響被測元素的原子化，而引起的干擾。

消除化學干擾的方法:

(1)選擇合適的原子化方法提高原子化溫度，減小化學干擾。使用高溫火焰或提高石墨爐原子化溫度，可使難離解的化合物分解。采用還原性強的火焰與石墨爐原子化法，可使難離解的氧化物還原、分解。

(2)加入釋放劑

釋放劑的作用是釋放劑與干擾物質能生成比與被測元素更穩定的化合物，使被測元素釋放出來。在測定鈣時，加入鍶，它能與磷酸根形成更穩定的化合物而使鈣釋放出來。

(3)加入保護劑

保護劑作用是它可與被測元素生成易分解的或更穩定的配合物，防止被測元素與干擾組份生成難離解的化合物。保護劑一般是有機配合劑。

(4)加入消電離劑

消電離劑是比被測元素電離電位低的元素，相同條件下消電離劑首先電離，產生大量的電子，抑制被測元素的電離。例如:測鈣時可加入過量的KCl溶液消除電離干擾。

(5)緩沖劑

于試樣與標準溶液中均加入超過緩沖量(即干擾不再變化的最低限量)的干擾元素。如在用C2H2- -N20 火焰測鈦時，可在試樣和標準溶液中均加入質量分數為2*10-4以上的鋁，使鋁對鈦的干擾趨于穩定。

(6)加入基體改進劑

對于石墨爐原子化法，在試樣中加入基體改進劑，使其在干燥或灰化階段與試樣發生化學變化，其結果可以增加基體的揮發性或改變被測元素的揮發性，以消除干擾。

三、光譜干擾

光源在單色器的光譜通帶內存在與分析線相鄰的其它譜線,可能有下述兩種情況:

A 與分析線相鄰譜線干擾

A1 與分析線相鄰的是待測元素的譜線。在Ni的分析線232.0nm附近還存在231.6nm的譜線;用308.22nm的譜線測定鋁時，如果存在釩，釩對308.21nm的譜線要產生吸收，減小狹縫寬度可改善或消除這種影響。

A2與分析線相鄰的是非待測元素的譜線。這種干擾主要是由于空心陰極燈的陰極材料不純等，且常見于多元素燈。若選用具有合適惰性氣體，純度又較高的單元素燈即可避免干擾。

A3空心陰極燈中有連續背景發射主要來自燈內雜質氣體或陰極上的氧化物。

鄰近線背景校正：用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度，因非共振線(鄰近線)不產生原子吸收,用它來測量背景吸收的吸光度。兩者之差值即為原子吸收的吸光度。

氘燈校正法：先用銳線光源測定分析線的原子吸收和背景吸收的總和。再用氘燈在同一波長測定背景吸收(這時原子吸收可忽略不計)計算兩次測定吸光度之差，即為原子的吸光度。

A4 與共存元素的光譜線重疊引起的干擾

可選用待測元素的其它光譜線作為分析線，或者分離干擾元素來消除干擾。

B 與原子化器有關的干擾

B1 原子化器的發射來自火焰本身或原子蒸氣中待測元素的發射。儀器采用調制方式進行工作，或可適當增加燈電流,提高光源發射強度來改善倍噪比。

B2 背景吸收(分子吸收)

來自原于化器(火焰或無火焰)的一種光譜干擾。 它是由氣態分子對光的吸收以及高濃度鹽的固體微粒對光的散射所引起的。它是-種寬頻帶吸收。(包括火焰本體吸收、金屬鹽顆粒吸收)

消除背景吸收，可采用下述幾種辦法:

1>因為背景吸收是寬頻帶吸收,因此若有可能，可以測量與分析線鄰近的非吸收線的吸收(即背景吸收)，再從分析線的總吸收中扣除非吸收線的吸收,這樣就校正了背景吸收的影響。

2>用與試樣溶液有相似組成的標準溶液來校正。

3>用分離基體的辦法來消除影響。

對于不同儀器型號、不同的測量方式和方法，具體對干擾的解決方法和措施各盡不同，當以具體的實際操作做出具體的調整。