基于干擾物和待測物與反應(yīng)池氣體反應(yīng)速率的不同，化學(xué)反應(yīng)為待測物和干擾物的分離提供了有效的途徑。然而，常規(guī)的四極桿 ICP-MS 只有一個質(zhì)量選擇步驟，即位于碰撞反應(yīng)池后面的四極桿質(zhì)量分析器，這意味著它無法阻止樣品（等離子體、溶劑等）中的離子進(jìn)入碰撞反應(yīng)池，因此，常規(guī)單四極桿 ICP-MS的化學(xué)反應(yīng)過程是無法控制的。事實(shí)上這意味著：

1、來自基質(zhì)或等離子體的離子（或其他分析物）與反應(yīng)池氣體會發(fā)生反應(yīng)形成新的產(chǎn)物離子。這些離子與被分析物的質(zhì)量數(shù)產(chǎn)生重疊，包括分析物的原位質(zhì)量數(shù)，和其產(chǎn)物離子質(zhì)量數(shù)。

2、與反應(yīng)池氣體反應(yīng)緩慢（或根本不反應(yīng)）的現(xiàn)有離子質(zhì)量數(shù)不變，并且可能與分析物產(chǎn)物離子在該質(zhì)量數(shù)產(chǎn)生重疊。

而Agilent 8900使用串聯(lián)質(zhì)譜技術(shù)，兩個四極桿（Q1和 Q2）分別位于ORS4 碰撞反應(yīng)池前后。第一個四極桿（反應(yīng)池前面）用于控制進(jìn)入反應(yīng)池并發(fā)生反應(yīng)的離子。第二個四極桿（反應(yīng)池后面）使分析物離子或其產(chǎn)物離子被精準(zhǔn)篩選后進(jìn)入檢測器。這種兩級質(zhì)量篩選（MS/MS) 是 ICP-MS/MS 對干擾控制更佳的根本原因。

通過案例常見元素鈣（Ca)和鈦（Ti）對硫（S）分析的影響，展示使用“單四極桿”操作和MS/MS模式時反應(yīng)氣方法間的性能差異。在測定中使用典型的氧氣質(zhì)量轉(zhuǎn)移模式，S+與o2反應(yīng)池氣體快速反應(yīng)，形成了SO+產(chǎn)物離子，質(zhì)量數(shù)M+16,從而避免在質(zhì)量數(shù)32、33和34處對S同位數(shù)的多原子重疊。在MS/MS模式下展示SO+的同位素模式，該模式下采用MS/MS測定了10ppb的S標(biāo)準(zhǔn)品，與5%異丙醇、1ppm Ca和1ppm Ti重疊。IPA、Ca和Ti基質(zhì)對S的測定信號影響極小，S質(zhì)譜峰的豐度與其理論同位素豐度相匹配，表明共存的 C、Ca 和 Ti 不干擾測定。相比之下，在“單四極桿”模式下，ArC+、Ca+和Ti+離子不能在進(jìn)入反應(yīng)池前被排除，所以它們?nèi)猿霈F(xiàn)在質(zhì)譜圖中，導(dǎo)致干擾了所有SO+產(chǎn)物離子的測定，展示了較差的同位素模板匹配以及 ArC+、Ca+ 和 Ti+ 與 SO+ 的離子重疊。