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ARTICLES詳細介紹
質譜儀安捷倫Agilent 8900 串聯四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行業中成功且應用廣泛的串聯電感耦合等離子體質譜儀。安捷倫Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置,適合從常規商業分析到高級研究和高純度材料分析的應用,其重新定義了 ICP-MS 性能,可提供可靠的分析結果。
安捷倫串聯四極桿電感耦合等離子體質譜儀 ICP-MS 8900 系統具有與安捷倫市場當先的單四極桿 ICP-MS 系統相同的基質耐受性和穩定性,并與超高效的氦 (He) 碰撞模式相結合。但 8900 系統增加了串聯質譜操作 (ICP-MS/MS),可對碰撞反應池 (CRC) 中的反應化學過程進行精確的控制,使其成為強大、靈活的多元素分析儀。利用 8900 ICP-MS/MS 控制干擾,讓您的結果可靠無疑。
特性
串聯四極桿 ICP-MS 是一種用于元素分析的串聯質譜儀 (MS/MS)。ICP-MS/MS 在碰撞/反應池 (CRC) 前增加了一個額外的四極桿質量過濾器 (Q1),因此質譜干擾問題可以通過反應池氣體和氦氣 (He) 碰撞模式得到解決。為了在單位 (1 u) 質量分辨率下實現高離子傳輸效率,ICP-MS/MS 的兩個四極桿都必須在高真空條件下運行。ICP-MS/MS 尤其適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現成功分析的高級應用。
ICP-MS/MS 使用兩個四極桿質量過濾器對離子進行兩次過濾,Q1 位于 CRC 之前,Q2 位于 CRC 之后。雙重質量過濾 (MS/MS) 能夠控制 CRC 中用于解決質譜重疊干擾的反應過程。Q1 剔除目標分析物質量以外的所有離子,因此只有分析物離子和相同質量的干擾物能夠進入 CRC。反應池氣體將分析物離子與重疊離子分離,且不存在單四極桿 ICP-MS 中可能發生的其他元素或同位素形成新的重疊產物離子的風險。
ICP-MS/MS 適用于那些采用單四極桿 ICP-MS 無法實現理想分析的高要求應用。這些應用可能需要極低的檢測限,例如,檢測半導體制程化學品和高純度材料中的超痕量污染物或檢測極小的納米顆粒。ICP-MS/MS 可以利用 MS/MS 消除同量異位素干擾、雙電荷離子干擾、相鄰質量數重疊干擾以及高強度的多原子干擾。這種能力使它可以分析低濃度的非常規分析物,如 Si、P、S、Cl,甚至是 F。
串聯四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 的應用
ICP-MS/MS 為半導體和材料行業提供了更低的檢測限和更出色的干擾控制。當先制造商使用 8900 確保其高純度工藝化學品和材料的質量。
超高靈敏度、超低背景以及極短的 0.1 ms 駐留時間可確保準確檢測出最小納米顆粒 (NP)。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干擾,從而實現 SiO2 和 TiO2 NP 的低濃度分析。
MS/MS 控制碰撞/反應池中的化學反應,使研究人員能夠分離阻礙地球化學測量的同質異位素重疊。8900 可分離 204Hg 與 204Pb、87Rb 與 87Sr 以及 176Lu 與 176Hf 等重疊,實現準確的地質年代學同位素比值分析。
MS/MS 還可分離用于核研究和核退役測量的放射性核素的直接重疊,提高豐度靈敏度,分離峰拖尾重疊(如 238U 與 237Np)。
安捷倫 ICP-MS/MS 儀器可以分離先前難以分析的元素(如 Cl、P 和 S)的光譜重疊和生命科學研究。使研究人員能夠對蛋白質和肽直接進行基于 S 和 P 雜元素的單獨化合物定量分析。
新型測量的執行能力開辟了藥物開發、臨床研究和毒液組學等全新的研究領域。
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